OMCL-AC240TS　生産終了品

• 1. 粘弾性の測定や柔らかい試料に対応した低バネ定数カンチレバー
• 2. 表面電位測定も可能な低抵抗シリコン使用

（新シリコンカンチレバーシリーズ共通の特長）

• 3. 安定して鋭く尖った探針先端
• 4. 「TipView構造」 ： 探針と試料測定部位の位置関係の把握が容易
• 5. 「新コンセプトChip」 ： Chipのハンドリングが格段に向上
• 6. 目的に応じて選べる背面反射コート
• 7. ケースを開けてすぐに使用可能な切り分け済みChip

1. 粘弾性の測定や柔らかい試料に対応した低バネ定数カンチレバー

バネ定数 2 N/m(Typ.)とダイナミックモード用シリコンカンチレバーとしては一番小さなバネ定数を持ち、試料と探針間の荷重を小さく抑えます。そのため粘弾性の測定や柔らかい試料の測定等に適しています。

2. 表面電位測定も可能な低抵抗シリコン使用

カンチレバー素材に表面抵抗が0.01～0.02 Ω・cmのN型ドープドシリコン（弊社従来比の1/200）を採用しているため、表面電位測定等への応用も期待できます。

3. 安定して鋭く尖った探針先端

OMCL-ACシリーズの探針に採用されたテトラヘドラル形状（三角錐形状）は、理論的に先端で一点終端し、安定して尖る探針を実現することができます。さらにオリンパス独自の尖鋭化処理により一層尖らせた探針は、高解像度AFM測定を可能にします。

4. 「TipView構造」 ： 探針と試料測定部位の位置関係の把握が容易

テトラヘドラル探針はカンチレバーの先端に形成され、「TipView構造」のマイクロカンチレバーを構成しています。探針の先端はカンチレバー自由端のカンチレバー面法線上にあり、光学顕微鏡が組み合わされたSPM装置にとりつけて背面から試料とマイクロカンチレバーを光学観察したとき、カンチレバーで探針が隠されず、試料上の興味の部位に探針を容易に位置合わせすることが可能です。

5. 「新コンセプトChip」 ： Chipのハンドリングが格段に向上

新コンセプトChipは、Chipの横断面が長方形で側壁が垂直になっています。このため従来のChipに比べて、ピンセットでのつまみやすさが格段に向上しました。ピンセットを使い、Chipをケースから取り出しChipホルダーに装着するまでの一連の作業がスムーズに行えます。
また、欠けやすいシリコン製のChipをピンセットでつまんだとき、シリコンの欠けらの発生を大幅に低減できます。カンチレバーの振動特性が画質に影響を与えるACモード測定では、ChipホルダーにChipを装着したときにシリコンの欠けらが両者の間に入ると、カンチレバーの振動特性が悪くなることがあります。新コンセプトChipはシリコンの欠けらの発生を低減し、きれいな画像を安定して得ることができます。

6. 目的に応じて選べる背面反射コート

背面反射アルミニウムコート有りと、金属コートなしの2種類をご用意しております。

• 背面反射アルミニウムコート有り ： OMCL-AC240TS-シリーズ
• 金属コート無し ： OMCL-AC240TN-シリーズ

7. ケースを開けてすぐに使用可能な切り分け済みChip

ボリューム品 -R3（100 chip入り）と少量品 -C3（24 chip入り）をどちらも切り分け済みChipでご提供いたします。